
通過(guò)特殊光學(xué)透鏡形成平行光源
適合光潔平面反光物體缺陷檢測(cè)
芯片和硅晶片的破損檢測(cè)
Mark點(diǎn)定位
金屬、玻璃等高反光表面缺陷檢測(cè)
反光產(chǎn)品激光打標(biāo)字符、二維碼識(shí)別
準(zhǔn)直同軸光源具有更好的準(zhǔn)直性能,對(duì)于玻璃、液晶、高反光平整物體表面的細(xì)微缺陷、劃痕檢測(cè)效果明顯。
KW | - | CP | 75 | - | W |
品牌 | 平行同軸光源 | 發(fā)光尺寸 | 顏色 |
(單位:mm)